Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия

Автор(ы):Оикава Т., Синдо Д.
Издание:Техносфера, Москва, 2006 г., 256 стр., ISBN: 5-94836-064-4
Язык(и)Русский
Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия

Монография посвящена особенностям конструкции современных просвечивающих электронных микроскопов (ПЭМ), спектроскопии потерь энергии электронов (СПЭЭ), энергодисперсионной электроннозондовой рентгеновской спектроскопии (ЭДС), а также цифровым системам регистрации изображений, в том числе на основе цифровых ПЗС камер и системам на основе электронно-стимулированной фотолюминесценции (IP-системам), устанавливаемых на современные ПЭМ. Даны подробные описания аналитических методик и интерпретации полученных результатов.

В книге представлен новейший метод трехмерной томографии с помощью ПЭМ и метода ALCHEMI для анализа дефектов замещения в кристаллах. Также изложены прикладные методы для анализа магнитных материалов, метод электронной голографии.

Настольная книга материаловеда

Скачать
Внимание! Если Вы хотите поделиться с кем-то материалом c этой страницы, используйте вот эту ссылку:
http://local.www.geokniga.org/books/12319
Прямые ссылки на файлы работать не будут!
1637.85