Основы структурного анализа химических соединений

Издание 2
Автор(ы):Порай-Кошиц М.А.
Издание:Высшая Школа, Москва, 1989 г., 192 стр., УДК: 543, ISBN: 5-06-000074-5
Язык(и)Русский
Основы структурного анализа химических соединений

Рассматриваются вопросы структурной кристаллографии и теории дифракции рентгеновского излучения, методы решения проблемы «начальных фаз», наиболее существенные приложения структурных исследований в химии. Сравниваются возможности трех дифракционных методов: рентгеновского, нейтронографического и электронографического, Во втором издании расширены ключевые разделы современного реитгеноструктуриого анализа: кинематические схемы дифрактомеров, основы статистического определения начальных фаз (знаков) структурных амплитуд, распределение электронной плотности в межъядерном пространстве по прецизионным данным.

Предназначается для студентов химических специальностей университетов

Скачать
Внимание! Если Вы хотите поделиться с кем-то материалом c этой страницы, используйте вот эту ссылку:
http://www.geokniga.org/books/15403
Прямые ссылки на файлы работать не будут!
1880.53