Электронно-зондовый микроанализ и растровая электронная микроскопия в геологии

Автор(ы):Рид С.Дж.Б
Издание:Техносфера, Москва, 2008 г., 232 стр., ISBN: 978-5-94836-177-2
Язык(и)Русский (перевод с английского)
Электронно-зондовый микроанализ и растровая электронная микроскопия в геологии

В предлагаемой книжке описываются рентгеноспектральный микроанализ и растровая электронная микроскопия применительно к решению геологических задач. Рассмотрены базы взаимодействия убыстренного пучка электронов с образчиком и оборудование для ЭЗМА и РЭМ, ключевые основы формирования изображения в РЭМ, основы работы рентгеновских спектрометров с энергетической (ЭДС) и волновой дисперсией (ВДС). Подробно рассказаны упражнения высококачественного и количественного рентгеноспектрального анализа.

Книга предназначена для студентов-геологов и аспирантов, работников заводских лабораторий, а также как дополнительный материал для специалистов, использующих ЭЗМА и РЭМ для решения геологических задач. Чтобы сделать книгу доступной, в ней опущены излишние технические подробности.

ТематикаКристаллография
Меткирентгеноспектральный микроанализ, Электронная микроскопия, Электронно-зондовый микроанализ
Скачать
Внимание! Если Вы хотите поделиться с кем-то материалом c этой страницы, используйте вот эту ссылку:
http://local.www.geokniga.org/books/15405
Прямые ссылки на файлы работать не будут!
1888.93