Способы контроля параметров микроструктуры методами дифракционного анализа

Автор(ы):Мирошниченко С.П., Серба П.В.
Издание:ТТИ ЮФУ, Таганрог, 2009 г., 39 стр., УДК: 621.382.82 (075.8)
Язык(и)Русский
Способы контроля параметров микроструктуры методами дифракционного анализа

В пособии рассматриваются способы контроля параметров микроструктуры материалов методами дифракционного анализа. Приводятся основные параметры, характеристики,  методика контроля. Методическое пособие предназначено для изучения курса «Кристаллография» студентами специальностей 210100 и 210600, а также может быть полезно студентам других специальностей.

Скачать
Внимание! Если Вы хотите поделиться с кем-то материалом c этой страницы, используйте вот эту ссылку:
http://local.www.geokniga.org/books/15409
Прямые ссылки на файлы работать не будут!
1183.89