Несмотря на значительно возросший объем исследований алмазов, многие принципиальные стороны их генезиса остаются неясными. В частности, остродискуссионным является вопрос о взаимосвязи морфологии с внутренним сложением различных типов алмаза. В то же время, именно исследование строения пирамид, зон роста и различных неоднородностей кристаллической структуры является весьма актуальным, так как позволяет выявить закономерности образования и роста кристаллов и способствует промышленной сертификации алмазов.

Гониометрия не позволяет вскрыть все особенности этого процесса, и отличительной особенностью данной работы является комплексность применяемых методов физического исследования. Нами была изучена коллекция кристаллов алмазов (около 1000 шт.), представляющая месторождения Урала и Якутии. Наиболее типичные 75 кристаллов, характеризующие различные габитусные группы, были подвергнуты всестороннему физико-минералогическому исследованию. Детальное исследование внутренней морфологии было возможно благодаря тому, что наиболее интересные из них были разрезаны на пластины. Нами применен ряд методов: рентгенодифракционной топографии Ланга (1964), позволяющий получить прямое изображение дефектов в объеме кристалла; поляризационно-оптический, позволяющий установить механические напряжения; фотолюминесцентный, выявляющий точечные дефекты; ИК спектроскопии,1 устанавливающий присутствие и локализацию примесей, и авторадиографии,2 позволяющий охарактеризовать распределение примесей в кристаллах.

Картины внутренней морфологии, выявленные методами рентгенотопографии, люминесценции и двупреломления, пространственно совпадают, что позволило зафиксировать элементы зарождения, роста и растворения алмаза. Впервые для кристаллов алмаза было выявлено пространственное распределение примесей Ni, Со, Са, Ва, Mg, Mn, Na, Cu и Al в объеме и установлены их взаимоотношения между собой, с примесью азота и со структурой алмаза. Было установлено, что все изученные алмазы представляют различные формы роста.