Автор(ы):Герасимов В.Н., Доливо-Добровольская Е.М., Каменцев И.Е., Кондратьева В.В., Косой А.Л., Лесюк Г.И., Рождественская И.В., Строганов Е.В., Филатов С.К., Франк-Каменецкая О.В.
Редактор(ы):Франк-Каменецкий В.А.
Издание:Недра, Ленинград, 1975 г., 399 стр., УДК: 548.73
Язык(и)Русский
Руководство по рентгеновскому исследованию минералов

В книге изложены методы и аппаратура рентгенографии поли- и монокристаллических материалов в фотографическом и дифрактометрическом вариантах в комнатных условиях и при повышенных температурах. Приведены краткие сведения о природе и свойствах рентгеновских лучей, о методах рентгеноструктурного анализа и обработке экспериментальных данных на ЭВМ.

На примере природных материалов — минералов — рассмотрено использование этих методов для идентификации вещества, определения количественного фазового состава пробы, прецизионного определения параметров ячейки, изучения фазовых превращений и тепловых деформаций материалов при изменении температуры в разных средах, определения пространственной группы кристаллов, их кристаллической структуры и природы структурных примесей в них.

Книга рассчитана на широкий круг специалистов, работающих в области рентгенографии материалов, она может быть полезной студентам старших курсов, готовящимся стать такими специалистами

Том 1
Автор(ы):Гоулдстейн Дж., Джой Д., Лифшин Э., Ньюбери Д., Фиори Ч., Эчлин П.
Издание:МИР, Москва, 1984 г., 303 стр., УДК: 621.385.833
Язык(и)Русский (перевод с английского)
Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ. Книга 1

В первой книге монографии известных американских специалистов изложены стандартные методы растровой электронной микроскопии и некоторые аспекты рентгеновского микроанализа. Рассмотрены особенности электронной оптики приборов, взаимодействие электронов с твердым телом, теория формирования изображения в растровом микроскопе, а также разрешение, информативность режимов вторичных и отраженных электронов, рентгеновская спектрометрия с дисперсией по энергии и длине волны и качественный рентгеновский микроанализ.

Книга представляет интерес для физиков, химиков, материаловедов, геологов, биологов и студентов соответствующих специальностей

Ленты новостей
2551.21