Автор(ы):Русаков А.А.
Издание:Атомиздат, Москва, 1977 г., 480 стр.
Язык(и)Русский
Рентгенография металлов

Рентгеноспектральный анализ основан  на  свойстве элементов испускать  при  облучении их быстрыми электронами  характерное для  каждого из  них рентгеновское  излучение,  состоящее из  небольшого   числа   спектральных   линий.   Методами   рентгеноспект-рального анализа  изучается химический состав веществ. Автоматизация  рентгсноспектрального анализа позволила создать  установки,  значительно превосходящие по производительности обычные методы химического анализа и позволяющие  контролировать технологические процессы  в  производстве.   В практику лабораторий вошли рентгеновские микроанализаторы, с помощью которых можно  определять   химический    состав    в   микрообъемах   (0,6 — 300 мкм3), что сделало эти приборы   незаменимыми  для  металловедческих и металлофизических исследований.

ТематикаРентгенография
Автор(ы):Горелик С.С., Расторгуев Л.Н., Скаков Ю.А.
Издание:Металлургия, Москва, 1970 г., 366 стр., УДК: 669.17.539.25/27 (075.8)
Язык(и)Русский
Рентгенографический и электроннооптический анализ

Книга является учебным пособием по рентгеноструктурному анализу, электронографии и электронной микроскопии. В ней рассмотрена экспериментальная и расчетная методика решения задач по рентгеноструктурному анализу, электронографии и электронной микроскопии. В описании каждой работы имеются необходимые теоретические пояснения и изложен порядок выполнения задач. В приложении дан необходимый справочный материал. 

Книга предназначена для студентов металлургических, политехнических и машиностроительных вузов по специальностям: металловедение, физика металлов, полупроводники и диэлектрики, физико-химические исследования, обработка металлов давлением, литейное производство и металлургия черных и цветных металлов, технология специальных материалов электронной техники. Она может быть также использована сотрудниками научно-исследовательских институтов и заводских лабораторий, работающими в области рентгеноструктурного, электронографического и электронномикроскопического анализа материалов.

ТематикаРентгенография
Автор(ы):Иванов А.Н., Расторгуев Л.Н., Скаков Ю.А., Уманский Я.С.
Издание:Металлургия, Москва, 1982 г., 632 стр., УДК: 548.73.187 (075.8)
Язык(и)Русский
Кристаллография, рентгенография и электронная микроскопия

Приведены необходимые для применения дифракционных методов сведения по кристаллографии. Рассмотрены теоретические основы и практическое использование дифракции рентгеновских-лучей, электронов и нейтронов для изучения структуры кристаллов н металлических материалов. Изложены принципы и применение просвечивающей, дифракционной и растровой электронной микроскопии. Описаны методы локального элементного анализа, основанные на различных видах взаимодействия быстрых электронов с веществом.

Учебник предназначен для студентов металлургических и политехнических вузов, специализирующихся в области металлофизики, металловедения и физико-химических исследований материалов. Может быть полезен инженерам-исследователям, работающим в области физического металловедения и физико-химических исследований, технологии производства и обработки металлических материа- t лов.

Развитие металлургии в настоящее время в соответствии с решениями XXVI съезда КПСС направлено прежде всего на повышение качества металлических материалов и эффективности их использования.

Исследования структуры металлов и сплавов с помощью современных дифракционных методов позволяют выявить ресурсы улучшения механических и других эксплуатационных характеристик материала. Требования практики, с одной стороны, и развитие рентгеновских и электроннооптических методов, с другой, приводят к тому, что методы анализа структуры оказываются не только методами исследования, но и методами контроля качества металлических материалов, а также технологических процессов их получения и обработки.

Курс «Кристаллография, рентгенография и электронная микроскопия» для подготовки инженеров-металлургов по специальностям «Физика металлов», «Физико-химические исследования металлургических процессов» и «Металловедение, оборудование и технология термической обработки металлов» включает дисциплину фундаментального характера — кристаллографию, теорию и практику методов анализа атомно-кристаллической структуры вещества — рентгенографический, электроно-графический анализы, электронную микроскопию и примыкающие к ним методы анализа элементного (химического) состава вещества, т. е. рентгеноспектральныи анализ, электронную и ионную спектроскопию.

Кристаллография изучается прежде всего как первый и основополагающий раздел физики твердого тела, знание которого является обязательным для изучения всех других курсов металлофизического цикла, начиная с курса металлографии и кончая дисциплинами специализации. Главное внимание концентрируется на вопросах структурной кристаллографии, поскольку курс в целом направлен на овладение дифракционными методами анализа для изучения структуры металлов и сплавов. В кристаллохимии рассматриваются только самые общие закономерности, достаточные для анализа типичных структур металлов, твердых растворов на их основе и некоторых химических соединений (или промежуточных фаз сплавов) либо интересных в методическом отношении (для   демонстрации   Кристаллографических закономерностей), либо важных с точки зрения металлургического производства.

Центральной частью курса является изучение основ общей теории дифракции на трехмерной кристаллической решетке. Все изложение ведется с помощью понятий обратной решетки, которая вводится как физическая реальность — проявление определенной группы свойств кристаллов — наряду с ранее рассмотренным понятием кристаллической решетки. Обсуждение особенностей дифракции разного вида излучений — рентгеновских лучей, нейтронов и электронов— дается как на основе феноменологического описания соответствующих физических явлений, так и на основе квантово-механической теории. <...>

ТематикаКристаллография, Рентгенография
Автор(ы):Пущаровский Д.Ю.
Издание:ЗАО Геоинформмарк, Москва, 2000 г., 292 стр., УДК: 548.73, ISBN: 5-900357-50-3
Язык(и)Русский
Рентгенография минералов

Дается описание весьма разнообразных физических явлений, сопровождающих процессы рассеяния дифракции рентгеновских волн в кристаллах, без привлечения сложного математического аппарата Рассматриваются природа и свойства рентгеновских лучей, излагаются подходы к решению ряда практических задач рентгенографии минералов, представлены основные принципы теории рассеяния рентгеновских лучей в кристаллах и теоретические основы рентгено-структурного анализа кристаллов Рассмотрены новые приложения рентгено структурного анализа для решения важнейших проблем современной геологии и минералогии

Учебник написан на основе курса лекций по рентгенофафии мине ралов, читаемого студентам Геологического факультета МГУ

Предназначен для студентов и аспирантов геологических вузов, а также для специалистов в области кристаллофафии, минералогии, петрологии, литологии и смежных дисциплин.

ТематикаРентгенография
МеткиКристаллография, Минералогия, Рентгено-структурный анализ, Рентгеновские лучи, Рентгенография, Учебная литература
Ленты новостей
3003.75