Автор(ы):Малеев М.Н.
Издание:Наука, Москва, 1971 г., 239 стр., УДК: 549.1
Язык(и)Русский
Свойства и генезис природных нитевидных кристаллов и их агрегатов

В работе рассмотрены различные стороны проблемы природных нитевидных кристаллов: их распространенность в природе, разнообразные свойства, особенности реальной структуры, а также те явления генезиза минералов, которые обусловливают их образование как нитевидных индивидов и волокнистых агрегатов, т. е. их онтогенез.

Впервые для природных нитевидных кристаллов применены методы дифракционной электронной микроскопии, что позволило обнаружить совершенство реальной структуры природных «усов», а также способы образования их агрегатов.

Показано, что широко распространенные в природе нитевидные кристаллы по свойствам, реальной структуре и механизму роста - то же самое, что и искусственные «усы».

Книга предназначена для широкого круга специалистов: минералогов, кристаллографов, экспериментаторов, занимающихся выращиванием искусственных «усов», а также для электронных микроскопистов, исследующих природные и синтетические нитевидные объекты.

ТематикаМинералогия
МеткиМинералогия, Нитевидные кристаллы, Онтогенез, Электронная микроскопия
Автор(ы):Боярская Р, В., Горшков А.И., Грицаенко Г.С., Звягин Б.Б., Самотоин Н.Д., Фролова К.Е.
Редактор(ы):Лукьянович В.М.
Издание:Наука, Москва, 1969 г., 564 стр., УДК: 537.533.35:549.02
Язык(и)Русский
Методы электронной микроскопии минералов
ТематикаМинералогия
Автор(ы):Добровольский Г.В., Шоба С.А.
Издание:Издательство Московского университета, Москва, 1978 г., 144 стр., УДК: 631.46
Язык(и)Русский
Растровая электронная микроскопия почв

Книга посвящена микроморфологическому изучению почв при помощи растрового электронного микроскопа. Рассматривается принцип работы и показаны его возможности для изучения почвенных объектов. Подробно описывается методика подготовки почвенных образцов для исследования на растровом микроскопе. Экспериментальная часть работы посвящена изучению микростроения тундровых, подзолистых, серых лесных почв, черноземов, сероземов и новообразований, выделенных из различных почв, обломков пород и биогенных образований. Приводятся результаты исследования микростроения почв в шлифах под поляризационным микроскопом и показана эффективность применения растрового электронного микроскопа для изучения строения почв на ультра микроскопическом уровне, что yеоб-ходимо для диагностики элементарных почвенных процессов.

Книга рассчитана на студентов, аспирантов, научных сотрудников в области почвоведения, связанных с изучением морфологии, микроморфологии, минералогии и генезиса почв

Автор(ы):Дойникова О.А.
Редактор(ы):Сидоренко Г.А.
Издание:ФИЗМАТЛИТ, Москва, 2012 г., 216 стр., УДК: 553.495, ISBN: 978-5-9221-1388-5
Язык(и)Русский
Минералогия урана восстановительной зоны гипергенеза (по данным электронной микроскопии)

В монографии всесторонне рассмотрены мало изученные ранее урановые черни, сложенные минералами четырехвалентного урана. Обобщены и схематизированы закономерности гипергенного минералообразования урана, объединяющие все типы его рудного концентрирования. Минерализация разновалентных форм рудного элемента — уранильная (U6+) и черневая (U4+) — рассматривается как проявление единой окислительно-восстановительной зоны гипергенеза. Приведены примеры урановых месторождений различных генетических типов с черневыми рудами. Минеральный состав урановых черней детализирован с применением локальных методов аналитической электронной микроскопии (АЭМ); выявлено новое минеральное семейство фосфатов четырехвалентного урана. Поскольку комплекс методов АЭМ является наиболее эффективным инструментом исследования рыхлого вещества, значительную часть книги занимает методический раздел с описанием практики кристаллохимического исследования дисперсных, плохо окристаллизованных (в том числе метамиктных) минералов урана. Рассмотрение на конкретных примерах метода микродифракционного изучения вещества полезно для исследователей разного профиля, применяющих электронную микроскопию

ТематикаМинералогия, Полезные ископаемые
Выпуск 611
Автор(ы):Стенина Н.Г.
Редактор(ы):Шарапов В.Н.
Издание:Наука, Новосибирск, 1985 г., 159 стр., УДК: 549+548.4+553.2:548.74
Язык(и)Русский
Труды института геологии и геофизики. Выпуск 611. Просвечивающая электронная микроскопия в задачах генетической минералогии

Приводятся новые методические, теоретические и методологические разработки по использованию современных методов просвечивающей дифракционной электронной микроскопии для решения задач генетической минералогии и петрографии. На их основе проведены конкретные исследования механизма реакций рудного метасоматоза, форм вхождения примесей и воды в минералы, природы газово-жидких включений субмикронных – микронных размеров, термической истории эклогитоподобных пород, геологической истории ряда интрузивных тел, особенностей флюидального режима в зонах глубинных разломов.

Для минералогов, петрологов, а также специалистов в различных областях физики твёрдого тела.

ТематикаМинералогия
МеткиГенетическая минералогия, Просвечивающая дифракционная электронная микроскопия, Труды института геологии и геофизики, Электронная микроскопия
Автор(ы):Рид С.Дж.Б
Издание:Техносфера, Москва, 2008 г., 232 стр., ISBN: 978-5-94836-177-2
Язык(и)Русский (перевод с английского)
Электронно-зондовый микроанализ и растровая электронная микроскопия в геологии

В предлагаемой книжке описываются рентгеноспектральный микроанализ и растровая электронная микроскопия применительно к решению геологических задач. Рассмотрены базы взаимодействия убыстренного пучка электронов с образчиком и оборудование для ЭЗМА и РЭМ, ключевые основы формирования изображения в РЭМ, основы работы рентгеновских спектрометров с энергетической (ЭДС) и волновой дисперсией (ВДС). Подробно рассказаны упражнения высококачественного и количественного рентгеноспектрального анализа.

Книга предназначена для студентов-геологов и аспирантов, работников заводских лабораторий, а также как дополнительный материал для специалистов, использующих ЭЗМА и РЭМ для решения геологических задач. Чтобы сделать книгу доступной, в ней опущены излишние технические подробности.

ТематикаКристаллография
Меткирентгеноспектральный микроанализ, Электронная микроскопия, Электронно-зондовый микроанализ
Автор(ы):Кужир П.Г., Тофпенец Р.Л., Юркевич Н.П.
Издание:БНТУ, Минск, 2004 г., 20 стр., УДК: 669.2
Язык(и)Русский
Электронно-микроскопическое исследование структуры кристаллов

В методических указаниях излагаются основы метода электрон-ной микроскопии по изучению структуры кристаллов. Представлена методика анализа картин микродифракции кристаллов.

Издание предназначено для студентов инженерно-технических специальностей всех видов обучения.

Автор(ы):Шиммель Г.
Редактор(ы):Рожанский В.Н.
Издание:МИР, Москва, 1972 г., 299 стр., УДК: 537.533.35+620.187
Язык(и)Русский (перевод с немецкого)
Методика электронной микроскопии

Книга западногерманского специалиста в области электронной микроскопии Г. Шиммеля представляет собой обзор по методике электронномикроскопических исследований. После обсуждения общих вопросов электронной микроскопии в ней рассмотрены важнейшие характеристики приборов, способы приготовления реплик, приложение метода для изучения фазового состава, динамики (в том числе количественной оценки) разнообразных процессов. Приведены многочисленные примеры конкретных электронномикроскопических исследований, превосходные снимки, разобраны причины ошибок и искажений.

Доступность изложения делает эту книгу интересной не только для опытных специалистов в области электронной микроскопии, но и для весьма широкого круга исследователей — биологов, химиков, геологов, медиков и ученых многих других специальностей, использующих в своей работе электронный микроскоп

ТематикаМинералогия, Петрография
Автор(ы):Оикава Т., Синдо Д.
Издание:Техносфера, Москва, 2006 г., 256 стр., ISBN: 5-94836-064-4
Язык(и)Русский
Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия

Монография посвящена особенностям конструкции современных просвечивающих электронных микроскопов (ПЭМ), спектроскопии потерь энергии электронов (СПЭЭ), энергодисперсионной электроннозондовой рентгеновской спектроскопии (ЭДС), а также цифровым системам регистрации изображений, в том числе на основе цифровых ПЗС камер и системам на основе электронно-стимулированной фотолюминесценции (IP-системам), устанавливаемых на современные ПЭМ. Даны подробные описания аналитических методик и интерпретации полученных результатов.

В книге представлен новейший метод трехмерной томографии с помощью ПЭМ и метода ALCHEMI для анализа дефектов замещения в кристаллах. Также изложены прикладные методы для анализа магнитных материалов, метод электронной голографии.

Настольная книга материаловеда

Том 1
Автор(ы):Гоулдстейн Дж., Джой Д., Лифшин Э., Ньюбери Д., Фиори Ч., Эчлин П.
Издание:МИР, Москва, 1984 г., 303 стр., УДК: 621.385.833
Язык(и)Русский (перевод с английского)
Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ. Книга 1

В первой книге монографии известных американских специалистов изложены стандартные методы растровой электронной микроскопии и некоторые аспекты рентгеновского микроанализа. Рассмотрены особенности электронной оптики приборов, взаимодействие электронов с твердым телом, теория формирования изображения в растровом микроскопе, а также разрешение, информативность режимов вторичных и отраженных электронов, рентгеновская спектрометрия с дисперсией по энергии и длине волны и качественный рентгеновский микроанализ.

Книга представляет интерес для физиков, химиков, материаловедов, геологов, биологов и студентов соответствующих специальностей

Ленты новостей
3571.32