Настоящее издание «Практического руководства по геометрической кристаллографии» существенно отличается от вышедшего в 1948 г. второго издания.

В предшествующих изданиях в качестве первого примера на графическое вычисление был взят ортоклаз — кристалл моноклинной сингонии. Опыт показал, что материал усваивается занимающимися значительно успешнее, если начинать не с моноклинного, а с ромбического кристалла. За таковой был взят форстерит, который в прежних изданиях входил в число задач (№ 16). Чтобы сохранить прежнее число задач (30), была добавлена новая — двухромовокислый калий.

Для быстрого перехода от трехиндексных символов при установке Миллера для тригональных кристаллов к четырех-индексным символам в общепринятой установке составлены две таблицы.

К изложению методики черчения аксонометрических проекций сделано добавление, поясняющее геометрические основания этой методики.

Книга содержит детальное изложение практической части  элементов геометрической кристаллографии:
1)  методику определения симметрии;
2) вычисление констант кристалла и индексов графическим методом при помощи сетки   Вульфа;
3)  технику измерения кристаллов на однокружном и теодолитном гониометрах.
Более кратко дано изложение методики нахождения симметрии из рентгенограмм типа Лауэ и способ черчения ортогональных проекций.
Для главных отделов приведены краткие теоретические дополнения, Для самостоятельных упражнений даны задачи на вычисление и на определение симметрии.
Книга предназначена для студентов втузов геолого-разведочного типа, где проходится полный курс кристаллографии, а также для инженерно-технического персонала, желающего повысить свою квалификацию в этой области.

В 1982 г. выпущено учебное пособие «Практическое руководство по кристаллографии и кристаллохимии. Методы описания кристаллических многогранников». В настоящем пособии приведены основные методы описания кристаллических структур, включая определение пространственной группы симметрии, правильных систем точек, базиса кристаллической структуры, символов атомных плоскостей и атомных рядов в кристаллических структурах, метод обратной решетки. Описаны кристаллохимические методы представления и расчета кристаллических структур, в том числе эпитаксиальных.

Предназначено для студентов металлургических, химико-технологических, геологоразведочных и политехнических вузов.

Настоящим пособием восполняется пробел в учебной литературе по методике осуществления рентген-дифракционных исследований поликристаллов в широком интервале температур терморентгенографии. Описываются основные узлы высокотемпературных камер для рентгенографии поликристаллов; рассматриваются методические приемы съемки первичных экспериментальных данных in situ термических исследований тепловою расширения и фазовых превращений, возможности визуальной диагностики полиморфных превращений I и II рода, образования и разложения химических соединений, гомогенизации и распада твердых растворов, кристаллизации из аморфной фазы и расплава, формирования наночастиц методом вакуумной термообработки, различных типов плавления (химических соединений, твердых растворов, систем с эвтектикой, перитектикой). Текст насыщеп описанием приемов и примерами работы на дифрактометрах с высокотемпературными приставками, используемыми на кафедре кристаллографии геологического факультета СПбГУ.

Пособие предназначено для студентов, аспирантов и специалистов, использующих в научной работе метод порошковой терморентгенографии, особенно на естественнонаучных факультетах университетов, вузов и в научно-исследовательских институтах