В доступной форме изложены: Понятие о проектировании (понятие о проекции, общий обзор проекции, семейство перспектив, шкалы линейная и стереографическая, применение проекций к кристаллографии) Теория стереографических проекций (полярная система координат, основные свойства стереографических проекций, стереографические сетки) Работа на сетке проф. Г. В. Вульфа (техника черчения, задачи, встречаемые в кристаллографии, задачи кристаллооптические, горногеометрические) Теория линейных проекций (основные положения, теоремы об углах в линейных проекциях, пример гномонического проектирования) Работа без сетки и на полярных сетках (вычерчивание стереографических проекций, основные задачи, кристаллооптические задачи, вращение на сетке проф. В. С. Сидорова, гемисфера проф. В. В. Никитина) Словарь терминов

В учебнике рассматриваются вопросы, связанные со структурной обусловленностью и интерпретацией физических свойств кристаллов: морфологии, окраски, люминесценции, лазерных, оптических, магнитных, сегнетоэлектрических, полупроводниковых и ионно-проводящих. Вводные части каждой главы содержат краткое изложение истории изучения и основные современные положения, используемые в физике и химии твердого тела для понимания особенностей соответствующего свойства.

Способ проб и о иибок (trial and error) до сих пор остается единственным в структурном анализе сколько-нибудь сложных кристаллических объектов. Высоко развитая рентгенометрическая техника, весь первый период анализа в конечном счете приводят к созданию лишь некоторых жестких рамок, в которых должно разместиться решение, и к получению экспериментального материала для третьей окончательной стадии решения, о которой сейчас будет речь.

Построение же, в полученных рамках, модели, узора структуры — вся вторая стадия анализа — является делом интуиции исследователя с облегчающими моментами: аналогия с ранее определенными структурами, в частности, некоторые обобщающие закономерности, выведенные на основании опыта по большинству изученных структур (законы Паулинга), и далее веские соображения химического и минералогического порядка.

В третьей стадии анализа созданная структура подвергается жесткой критике самого же исследователя за счет сравнения вычисляющихся интенсивностей (отражений от отдельных плоскостей кристалла) с экспериментальным материалом. <...>

Эта книга является систематическим изложением учения о векторном пространстве и о его использовании в кристаллографии. Несколько лет назад подобное изложение было бы преждевременным и возможным лишь в виде главы из книги, посвященной кристалло-структурному анализу. Но последние открытия, в частности успешное использование синтезов Патерсона для установления приближенных, но достаточно полных карт электронной плотности кристаллов, оправдывают более полную трактовку векторного пространства, чем та, которая могла бы уложиться в одну главу обычного курса кристаллоструктурного анализа.

Разделы предлагаемой читателю книги, в которых трактуется теория векторного пространства, изложены исчерпывающим образом и не требуют специальной технической или математической подготовки. Напротив, разделы, посвященные приложению этой теории к решению проблем расшифровки кристаллических структур, предполагают общее, хотя бы элементарное, знакомство со структурным анализом, которое доступно всякому, кто имеет даже ограниченный опыт в этом деле или обладает теми познаниями, которые легко приобрести из многочисленных пособий по этому предмету. Получение экспериментальных данных для кристаллоструктурного анализа здесь не обсуждается, а заранее принимается, что читатель уже располагает набором дифракционных амплитуд для своего кристалла и имеет элементарное представление о применении синтезов Фурье в анализе кристаллических структур.