Добрый день, Коллеги. Важное сообщение, просьба принять участие. Музей Ферсмана ищет помощь для реставрационных работ в помещении. Подробности по ссылке

Поиск по книгам
Издание:МИР, Москва, 1971 г., 493 стр., УДК: 539.107
Язык(и)Русский (перевод с английского)
Электронная спектроскопия

Спектроскопия фотоэлектронов, возбужденных рентгеновским или ультрафиолетовым излучением,— один из новых методов экспериментальной физики, сформировавшихся за последнее время.

Электронная спектроскопия позволяет получать важную информацию об электронной структуре вещества — абсолютные значения энергии связи электронов на всей совокупности атомных уровней, эффективные заряды атомов, распределение электронов по энергиям в валентной зоне. 

Автор(ы):Фомин И.С.
Издание:2010 г., 25 стр.
Язык(и)Русский
Электронная таблица-справочник минералов

«Электронная таблица-справочник минералов» - это большая таблица со свойствами минералов. Каждому классу выделен свой лист, каждый минерал описывается по следующим признакам: название, формула, сингония, класс симметрии, форма выделения, цвет, цвет черты, блеск, спайность, излом, твёрдость, плотность, спутники, происхождение, особые свойства.

Этот справочник предназначен для широкой аудитории: для студентов, школьников, просто людей, которые хотят узнать о свойствах минералов.

Это справочник, предназначенный прежде всего для того, чтобы узнать свойства минералов, когда название известно. 

Источник:http://ifsait.narod.ru/IFmin.htm
Автор(ы):Рид С.Дж.Б
Издание:Техносфера, Москва, 2008 г., 232 стр., ISBN: 978-5-94836-177-2
Язык(и)Русский (перевод с английского)
Электронно-зондовый микроанализ и растровая электронная микроскопия в геологии

В предлагаемой книжке описываются рентгеноспектральный микроанализ и растровая электронная микроскопия применительно к решению геологических задач. Рассмотрены базы взаимодействия убыстренного пучка электронов с образчиком и оборудование для ЭЗМА и РЭМ, ключевые основы формирования изображения в РЭМ, основы работы рентгеновских спектрометров с энергетической (ЭДС) и волновой дисперсией (ВДС). Подробно рассказаны упражнения высококачественного и количественного рентгеноспектрального анализа.

Книга предназначена для студентов-геологов и аспирантов, работников заводских лабораторий, а также как дополнительный материал для специалистов, использующих ЭЗМА и РЭМ для решения геологических задач. Чтобы сделать книгу доступной, в ней опущены излишние технические подробности.

Автор(ы):Васичев Б.Н.
Издание:Металлургия, Москва, 1977 г., 240 стр., УДК: 539.23.620.187
Язык(и)Русский
Электронно-зондовый микроанализ тонких пленок

Рассмотрена методика локального микроанализа элементного состава тонких объектов (пленок) и идентификации микрофаз вещества по характеристическим рентгеновским спектрам. Этот метод позволяет проводить комплексное изучение электронномикроскопических объектов и в настоящее время выделился в самостоятельное направление — электронно-зондовый микроанализ тонких пленок. Область применения метода весьма широка и разнообразна: это металлургия, полупроводниковая электроника, минералогия, биология и т. д. Рассмотрена аппаратура, применяемая для микроанализа тонких пленок, и даны рекомендации по технологии приготовления объектов.
Книга рассчитана на инженерно-технических работников — физиков и металловедов, занимающихся исследованием тонких пленок, микроструктуры тонких слоев и микрочастиц вещества. Может быть полезна студентам соответствующих вузов

Издание:БНТУ, Минск, 2004 г., 20 стр., УДК: 669.2
Язык(и)Русский
Электронно-микроскопическое исследование структуры кристаллов

В методических указаниях излагаются основы метода электрон-ной микроскопии по изучению структуры кристаллов. Представлена методика анализа картин микродифракции кристаллов.

Издание предназначено для студентов инженерно-технических специальностей всех видов обучения.

Издание:Наука, Москва, 1975 г., 356 стр., УДК: 548.0:549.903+530.1+539.1
Язык(и)Русский
Электронное строение и физические свойства кристаллов

Книга является результатом многолетней как самостоятельной, так и совместной работы авторов. В ней рассматриваются свойства кристаллов под углом зрения единства физических и структурных свойств кристаллов, молекул, атомов и элементарных частиц. Установление этого единства укрепляет известные представления и позволяет существенно их расширить.
Монография рассчитана на широкий круг исследователей и практиков кристаллографов, физиков, геологов, химиков и специалистов в других областях теоретических и прикладных наук, связанных с физикой микромира

Автор(ы):Диков Ю.П.
Издание:Москва, 1980 г., 44 стр.
Язык(и)Русский
Электронное строение силикатов

Силикате занимают исключительное положение среди других классов минералов. Насчитывая более 400 индивидуальных представителей и характеризуясь широким набором элементов, входящих в их состав, силиката, по-существу, определяют минеральный состав Земли и планет земного типа, так что эволюция планетарного вещества в значительной мере обусловлена их физико-химическими свойствами.

Автор(ы):Звягин Б.Б.
Редактор(ы):Пинскер З.Г.
Издание:Наука, Москва, 1964 г., 282 стр., УДК: 548.47+549.63
Язык(и)Русский
Электронография и структурная кристаллография глинистых минералов

Во многих отраслях народного хозяйства, науки и техники используются глинистые минералы. Хорошо известны достоинства глин, как катализаторов и адсорбентов, наполнителей и красителей, вяжущих и моющих средств. Значительна пх роль как сырья в производстве цемента и керамики, важнейшего фактора плодородия почв и прочности грунтов, индикатора условий образования осадочных горных пород и войскового признака для некоторых видов полезных ископаемых (Grim, 1960).

Во всех отношениях наибольший практический эффект может быть достигнут при изучении кристаллических структур глинистых минералов. Таким образом, глины п глинистые минералы являются достойными объектами структурного анализа, и они в нем нуждаются  ввиду своего разнообразия и сложности строения.

Своеобразное и оригинальное освещение структур глинистых минералов и важные практические результаты может дать, основанный на дифракции электронов, метод электронографии, который в данной области исследования имеет своп особые возможности. В связи с этим электронография глинистых минералов является отдельной отраслью метода дифракции электронов и занимает самостоятельное место в комплексе методов изучения глин.

Применение дифракции электронов к исследованию глинистых минералов в Советском Союзе развивалось в благоприятных условиях.

Прежде всего этому содействовал чрезвычайно высокий уровень развития электронографии в нашей стране. Особенно значительную роль сыграли работы 3. Г. Пинскера (1949) и Б. К. Вайнштейна (1956), заложившие основы электронографического структурного анализа. Под пх влиянием сформировался своеобразный облик советской электронографии, для которой, в частности, характерно раскрытие и использование богатейшего содержания электронограмм от текстур, оснащение ее методами анализа Фурье. <...>

5724.84