В земной коре широко распространены тонкодисперсные и плохо окристалливованные минералы. Познание их состава и кристаллохимических особенностей крайне важно как для понимания геологических процессов, происходящих в природе, так и для выяснения свойств пород и руд, , которые могут быть испольвованы или испольвуются для нужд народного хозяйства, науки и техники. Все это в полной мере относится к описанным в диссертации окислам марганца и железа континентальных отложений и океанических Fе-Mn конкреций, которые часто являются концентраторами таких важных промышленных элементов как Со и др., к смешано-слойным слоистым силикатам, а также к сульфидам, сульфатам, самородным металлам в тонкодисперсных минеральных смесях или в выделениях с размерами от долей до нескольких микронов.

В монографии излагаются теоретические основы дифракции электронов и электронной микроскопии высокого разрешения (ЭМВР), обсуждаются возможности и ограничения этих методов при использовании современных электронных микроскопов. Во второй части работы обобщен опыт структурных исследований минералов методами микро дифракции электронов и ЭМВР. Книга предназначена для специалистов в области электронной микроскопии минералов, а также для широкого круга кристаллохимиков и минералогов, интересующихся структурными исследованиями минералов

В книге освещаются современное состояние и возможности электронной микроскопии (включая микродифракцию) в изучении минералов и руд. Описывается ряд специальных методик (прямое наблюдение периодичности, сверх периодичности и дефектов кристаллических решеток, муар, ионное травление, декорирование, ультратонкие срезы и др.) и их применение к исследованию минералов.
Рассматривается эффективность сочетания электронной микроскопии, микродифракции и электронографии. Дается атлас оригинальных электронных микрофотографии минералов