----



Автор(ы):Горшков А.И.
Издание:Москва, 1984 г., 42 стр., УДК: 549.1:548.3:548.74
Язык(и)Русский
Кристаллохимия тонкодисперсных минералов по данным микродифракции электронов

В земной коре широко распространены тонкодисперсные и плохо окристалливованные минералы. Познание их состава и кристаллохимических особенностей крайне важно как для понимания геологических процессов, происходящих в природе, так и для выяснения свойств пород и руд, , которые могут быть испольвованы или испольвуются для нужд народного хозяйства, науки и техники. Все это в полной мере относится к описанным в диссертации окислам марганца и железа континентальных отложений и океанических Fе-Mn конкреций, которые часто являются концентраторами таких важных промышленных элементов как Со и др., к смешано-слойным слоистым силикатам, а также к сульфидам, сульфатам, самородным металлам в тонкодисперсных минеральных смесях или в выделениях с размерами от долей до нескольких микронов.

ТематикаАвтореферат, Кристаллохимия
Выпуск 352
Автор(ы):Дриц В.А.
Редактор(ы):Звягин Б.Б., Пейве А.В.
Издание:Наука, Москва, 1981 г., 263 стр., УДК: 537.533.35
Язык(и)Русский
Труды геологического института. Выпуск 352. Структурное исследование минералов методами микродифракции электронов и электронной микроскопии высокого разрешения

В монографии излагаются теоретические основы дифракции электронов и электронной микроскопии высокого разрешения (ЭМВР), обсуждаются возможности и ограничения этих методов при использовании современных электронных микроскопов. Во второй части работы обобщен опыт структурных исследований минералов методами микро дифракции электронов и ЭМВР. Книга предназначена для специалистов в области электронной микроскопии минералов, а также для широкого круга кристаллохимиков и минералогов, интересующихся структурными исследованиями минералов

Автор(ы):Боярская Р.В., Горшков А.И., Грицаенко Г.С., Звягин Б.Б., Самотоин Н.Д., Фролова К.Е.
Редактор(ы):Лукьянович В.М.
Издание:Наука, Москва, 1969 г., 564 стр., УДК: 537.533.35:549.02
Язык(и)Русский
Методы электронной микроскопии минералов

В книге освещаются современное состояние и возможности электронной микроскопии (включая микродифракцию) в изучении минералов и руд. Описывается ряд специальных методик (прямое наблюдение периодичности, сверх периодичности и дефектов кристаллических решеток, муар, ионное травление, декорирование, ультратонкие срезы и др.) и их применение к исследованию минералов.
Рассматривается эффективность сочетания электронной микроскопии, микродифракции и электронографии. Дается атлас оригинальных электронных микрофотографии минералов

Ленты новостей
2337.86