Развитие кристаллографии происходит по двум направлениям. Одно из них есть геометрическая кристаллография, изучающая форму кристаллов и кристаллической решётки с формально-геометрической точки зрения. Первоначально кристаллография как наука понималась именно в этом узком смысле. Вначале она была тесно связана с описательной минералогией, занимая по отношению к последней место подсобной дисциплины, и только впоследствии приобрела самостоятельное значение, главным образом благодаря трудам Е. С. Фёдорова.

Рассмотрены основополагающие аспекты физики кристаллов как одной из ведущих дисциплин, изучающих свойства твердых тел. Представлен анализ симметрии кристаллов. Раскрыты основные понятия и принципы кристаллофизики. Освещены упругие и оптические свойства кристаллов, изложена их термодинамика.

Представляет интерес для исследователей и специалистов, работающих в области физики кристаллов, а также для аспирантов и магистрантов, получающих высшее образование в области естественнонаучных и инженерно-технических направлений и специальностей с углубленным изучением физики

В работе изложены разработанные авторами алгоритмы расчета в геометросейсмическом приближении трехмерных полей смещений в слоисто-однородных анизотропных средах. Представлены двухточечные алгоритмы и параметрический метод расчета лучей. На их основе построены алгоритмы расчета теоретических сейсмограмм отраженных и проходящих воля. Алгоритмы подразделяются на две группы: для трансверсально-изотропных сред и для сред остальных систем симметрии; элементы симметрии в анизотропных слоях могут быть ориентированы произвольным образом.

Предусмотрена возможность расчета для случаев неоднозначности волновых поверхностей в слоях. Впервые в сейсмике рассматриваются анизотропные среды с акустической активностью.

Алгоритмы реализованы в виде пакета прикладных программ Анизотроп на языке Фортран-IV для ЭВМ типа ЕС.

Для специалистов в области сейсморазведки, ГСЗ и сейсмологии, а также для кристаллофизиков, изучающих распространение упругих волн в кристаллах

Настоящее учебное пособие содержит минимум сведений по точечной симметрии кристаллов, необходимых для дальнейшего изучения кристаллооптики, нелинейной оптики, оптики полупроводников и оптоэлектроники. Предназначено для студентов 3 и 4 курсов, обучающихся по специальности 200201 «Лазерная техника и лазерные технологии», а также по направлению 140400 «Техническая физика»

В книге (1-е издание вышло в 1976 г.) излагаются основы классической кристаллографии и кристаллохимии, а также вопросы широко развившейся за последние годы кристаллофизики, технической кристаллографии, приводятся инженерные методы расчета свойств кристаллов, описываются новые кристаллические материалы и подробно рассматривается применение кристаллов  в технике.