В монографии изложены основы структурной кристаллографии и учение о федоровских (пространственных) группах симметрии, составляющие фундамент современной физики твердого тела, кристаллохимии, материаловедения. Ее автор — академик Н.В.Белов — крупнейший кристаллограф, основатель советской кристаллоструктурной школы, работы которого сыграли исключительную роль в развитии этой области науки.

Классическое определение кристалла гласит, что это есть однородное анизотропное тело. Однородное означает, что свойства кристалла одинаковы во всех его точках. С того времени, как атомистическое — из дискретных частиц — строение вещества перестало быть гипотезой, определение кристалла, кристаллического вещества нуждается в исправлении. Кристалл не может иметь одинаковых свойств в тех точках, в которых расположены атомы одного сорта, и в тех его точках, где расположены атомы другого сорта, и, наконец, в тех точках, где атомов нет вовсе. В конкретной хорошо всем известной структуре хлористого натрия свойства кристалла в той точке, где находится атом Na, несомненно отличны от свойств того же кристалла в тех точках, где расположены атомы CI, и точно так же свойства этого кристалла в точке, разделяющей ближайшее расстояние между Na и Cl в отношении 1:3, совершенно отличны от свойств точки, делящей это расстояние в отношении 1: 80, и от бесчисленного множества других точек.

Определением, учитывающим дискретное строение кристалла из частиц одного или разных сортов и в то же время достаточно близким к классическому, будет следующее. <...>

Рассматриваются вопросы структурной кристаллографии и теории дифракции рентгеновского излучения, методы решения проблемы «начальных фаз», наиболее существенные приложения структурных исследований в химии. Сравниваются возможности трех дифракционных методов: рентгеновского, нейтронографического и электронографического, Во втором издании расширены ключевые разделы современного реитгеноструктуриого анализа: кинематические схемы дифрактомеров, основы статистического определения начальных фаз (знаков) структурных амплитуд, распределение электронной плотности в межъядерном пространстве по прецизионным данным.

Предназначается для студентов химических специальностей университетов

Рассмотрены теоретические вопросы структурной кристаллографии: параметры и типы пространственных решеток кристаллических материалов, кристаллографические индексы плоскостей и направлений, построение их проекций, элементы симметрии континуума и дисконтинуума.

Предназначено для студентов специальности 121000 (150502) «Конструирование и производство изделий из композиционных материалов» при изучении дисциплины «Структура и свойства композиционных материалов»

Во многих отраслях народного хозяйства, науки и техники используются глинистые минералы. Хорошо известны достоинства глин, как катализаторов и адсорбентов, наполнителей и красителей, вяжущих и моющих средств. Значительна пх роль как сырья в производстве цемента и керамики, важнейшего фактора плодородия почв и прочности грунтов, индикатора условий образования осадочных горных пород и войскового признака для некоторых видов полезных ископаемых (Grim, 1960).

Во всех отношениях наибольший практический эффект может быть достигнут при изучении кристаллических структур глинистых минералов. Таким образом, глины п глинистые минералы являются достойными объектами структурного анализа, и они в нем нуждаются  ввиду своего разнообразия и сложности строения.

Своеобразное и оригинальное освещение структур глинистых минералов и важные практические результаты может дать, основанный на дифракции электронов, метод электронографии, который в данной области исследования имеет своп особые возможности. В связи с этим электронография глинистых минералов является отдельной отраслью метода дифракции электронов и занимает самостоятельное место в комплексе методов изучения глин.

Применение дифракции электронов к исследованию глинистых минералов в Советском Союзе развивалось в благоприятных условиях.

Прежде всего этому содействовал чрезвычайно высокий уровень развития электронографии в нашей стране. Особенно значительную роль сыграли работы 3. Г. Пинскера (1949) и Б. К. Вайнштейна (1956), заложившие основы электронографического структурного анализа. Под пх влиянием сформировался своеобразный облик советской электронографии, для которой, в частности, характерно раскрытие и использование богатейшего содержания электронограмм от текстур, оснащение ее методами анализа Фурье. <...>

Настоящий том посвящен учению о симметрии кристаллов, которое является теоретической основой кристаллографии, и изложению методов анализа атомной структуры кристаллов.
Вначале вводятся основные понятия кристаллографии, рассматриваются общие характеристики кристаллического состояния вещества — макроскопические и микроскопические (определяемые решетчатым строением). Учение о симметрии излагается па основе теории групп. Анализируются точечные группы симметрии, группы стержней и слоев, пространственные группы. Рассматриваются обобщения симметрии: антисимметрия и цветная симметрия. Дается геометрическая теория описания конечного кристалла и кристаллической решетки.
Изложены физические принципы и основы математического аппарата структурного анализа кристаллов. Описаны методы изучения атомного строения   кристаллического   вещества:   рентгеноструктурный   анализ, электронография, нейтронография,  электронная микроскопия. Книга рассчитана на научных сотрудников, специалистов-практиков и производственников: кристаллографов, физиков, химиков, минералогов, инженеров, использующих методы и аппарат кристаллографии, а также студентов старших курсов и аспирантов.