Физические основы рентгеноструктурного исследования кристаллических материалов

Автор(ы):Абзаев Ю.А., Волокитин О.Г., Клопотов А.А., Клопотов В.Д., Потекаев А.И.
Издание:Издательство Томского Политехнического Университета, Томск, 2013 г., 263 стр., УДК: 539.2:539.1, ISBN: 978-5-4387-0197-2
Язык(и)Русский
Физические основы рентгеноструктурного исследования кристаллических материалов

В монографии представлены физические основы рентгеноструктурного исследования кристаллических материалов. Приведены основы традиционных и современных методов рентгеноструктурного анализа в материаловедении. Отдельно выделены принципы кристаллогеометрии с использованием основ теории симметрии.

Цель - разумное совмещение фундаментальности и прикладных (практических) методов решения конкретных научно-исследовательских и материаловедческих задач. По мере возможности авторы старались показать ясность и очевидность физических явлений, которые лежат в основе рентгеноструктурных методов.

Предназначена для студентов, магистрантов, аспирантов и специалистов, занятых в этой области, а также будет полезно практикам, не имеющим специального образования.

ТематикаКристаллография
Скачать
Внимание! Если Вы хотите поделиться с кем-то материалом c этой страницы, используйте вот эту ссылку:
https://www.geokniga.org/books/14634
Прямые ссылки на файлы работать не будут!
547.52