В учебно-методическом пособии рассматриваются процессы взаимодействия рентгеновского излучения с веществом. Представлены теоретические основы кинематической теории дифракции рентгеновских лучей в кристаллах. Приведено описание рентгеновской схемы съемки Брэгга-Брентано. Приведены подробные инструкции работы на приборе. Рассмотрены теоретические основы методов количественного анализа. Описана реализация методов обработки дифрактограмм на примере программного комплекса EVA. Учебно-методическое пособие содержит необходимый материал для успешного освоения фазового анализа поликристаллов.
Электронное учебно-методическое пособие предназначено для студентов ННГУ, обучающихся по направлению подготовки 011200.62 «Физика», изучающих курсы «Кристаллофизика», «Физика конденсированного состояния вещества».

Книга является учебным пособием по рентгеноструктурному анализу, электронографии и электронной микроскопии. В ней рассмотрена экспериментальная и расчетная методика решения задач по рентгеноструктурному анализу, электронографии и электронной микроскопии. В описании каждой работы имеются необходимые теоретические пояснения и изложен порядок выполнения задач. В приложении дан необходимый справочный материал. 

Книга предназначена для студентов металлургических, политехнических и машиностроительных вузов по специальностям: металловедение, физика металлов, полупроводники и диэлектрики, физико-химические исследования, обработка металлов давлением, литейное производство и металлургия черных и цветных металлов, технология специальных материалов электронной техники. Она может быть также использована сотрудниками научно-исследовательских институтов и заводских лабораторий, работающими в области рентгеноструктурного, электронографического и электронномикроскопического анализа материалов.

Собраны и систематизированы порошковые рентгенографические данные, сведения о параметрах ячейки, составе и других характеристиках для более 100 минералов класса карбонатов, их разновидностей и синтетических аналогов.
Монография' рассчитана па геологов, минералогов, кристаллографов, химиков, геохимиков, технологов и других специалистов, изучающих карбонатные соединении и минералы.

В монографии собраны и систематизированы рентгенографические порошковые данные, сведения о параметрах ячейки, составе и других характеристиках минералов класса цеолитов и их синтетических аналогов. Приведено более 200 карточек, содержащих краткое описание минералов, его местонахождение, генезис или условия синтеза, химический состав, кристаллографические и кристаллооптические данные, значения межплоскостных расстояний и соответствующих им интенсивностей и индексов отражения.
Набор справочных данных сопровождается алфавитным указателем минералов и ключом для предварительной идентификации анализируемых образцов, где приводятся значения межплоскостных расстояний для пяти наиболее интенсивных линий в пяти циклических перестановках.
Книга рассчитана на геологов, минералогов, сотрудников рентгеновских лабораторий, химиков, геохимиков, технологов и других специалистов, изучающих цеолиты.