Настоящее учебное пособие содержит минимум сведений по точечной симметрии кристаллов, необходимых для дальнейшего изучения кристаллооптики, нелинейной оптики, оптики полупроводников и оптоэлектроники. Предназначено для студентов 3 и 4 курсов, обучающихся по специальности 200201 «Лазерная техника и лазерные технологии», а также по направлению 140400 «Техническая физика»

В учебнике (первое издание вышло в 1973 г.) особое внимание уделено вопросам, отсутствующим в большинстве учебников либо изложенным не на современном уровне (например, симметрия кристаллов, координатные системы и их преобразования, простые формы, индицирование кристаллов). Одна из глав учебника посвящена практически важным задачам, для которых даны развернутые решения. Активному усвоению материала способствуют более 500 разнообразных упражнений

Настоящий том посвящен учению о симметрии кристаллов, которое является теоретической основой кристаллографии, и изложению методов анализа атомной структуры кристаллов.
Вначале вводятся основные понятия кристаллографии, рассматриваются общие характеристики кристаллического состояния вещества — макроскопические и микроскопические (определяемые решетчатым строением). Учение о симметрии излагается па основе теории групп. Анализируются точечные группы симметрии, группы стержней и слоев, пространственные группы. Рассматриваются обобщения симметрии: антисимметрия и цветная симметрия. Дается геометрическая теория описания конечного кристалла и кристаллической решетки.
Изложены физические принципы и основы математического аппарата структурного анализа кристаллов. Описаны методы изучения атомного строения   кристаллического   вещества:   рентгеноструктурный   анализ, электронография, нейтронография,  электронная микроскопия. Книга рассчитана на научных сотрудников, специалистов-практиков и производственников: кристаллографов, физиков, химиков, минералогов, инженеров, использующих методы и аппарат кристаллографии, а также студентов старших курсов и аспирантов.