Добрый день, Коллеги. Важное сообщение, просьба принять участие. Музей Ферсмана ищет помощь для реставрационных работ в помещении. Подробности по ссылке
В монографии изложены основы структурной кристаллографии и учение о федоровских (пространственных) группах симметрии, составляющие фундамент современной физики твердого тела, кристаллохимии, материаловедения. Ее автор — академик Н.В.Белов — крупнейший кристаллограф, основатель советской кристаллоструктурной школы, работы которого сыграли исключительную роль в развитии этой области науки.
Кристаллография и минералогия входят в состав цикла Дисциплины специальности, и является базовой для бакалавра в ряду дисциплин по изучению вещественного состава Земли. Основная цель – научить студентов диагностировать главнейшие минералы в составе горных пород, как в лабораторных, так и в полевых условиях.
В книге в краткой и доступной для школьников форме изложены основы классической кристаллографии. Материал организован в виде занятий, каждое из которых дополняется контрольными вопросами и упражнениями. В приложениях к пособию приведен дополнительный иллюстративный материал, представлены полезные ссылки на литературу и интернет-ресурсы, разобрана работа кабинета кристаллографии на олимпиаде школьников по геологии в МГУ, а также приведены ответы к упражнениям каждой ступени. Книга предназначена для школьников, желающих ознакомиться с основами кристаллографии в объеме, достаточном для успешного участия в олимпиадах по геологии, а также для преподавателей геологических кружков
Практикум включает в себя материал, необходимый для подготовки и проведения лабораторной работы по выращиванию кристаллических пленок методом магнетронного напыления по курсу «Выращивание кристаллов». Изложены основы теории магнетронного напыления, дано описание аппаратуры, методик напыления и оценки качества полученных кристаллических пленок.
В учебном пособии последовательно излагается теория симметрии кристаллов. Рассматривается геометрическое и аналитическое описание свойств симметрии твердых тел. Предназначено для студентов и научных работников, осваивающих дисциплину «Кристаллография».
Практикум включает комплекс работ по курсу «Кристаллография, минералогия и петрография», охватывая геометрическую кристаллографию, основы кристаллохимии, физической кристаллографии, а также минералогии и петрографии. Отдельный раздел практикума посвящен технической петрографии. В лабораторных работах рассмотриваются общие теоретические вопросы, порядок выполнения работ, приводятся контрольные вопросы по изучаемому материалу.
Анализ взаимного расположения граней кристалла оказывается весьма полезным при изучении различных свойств кристалла. Симметрия естественной огранки кристалла, как и симметрия его свойств (оптических, механических, теплопроводности. электропроводности и др.) определяется закономерным внутренним строением кристалла
Книга посвящена изложению методов измерения формы кристаллов. Форма кристалла может считаться известной, если способ се задания позволяет указать пространственные, координаты любой точки на поверхности кристалла. В традиционных способах описания формы точно указываются только неправде пня внешних нормалей к граням (и виде набора {hkl}, отнесенного к соответствующей ячейке кристалла), что явно недостаточно математически и с точки зрения современных задач кристалломорфологии. <...> Для регистрации поверхности кристалла наиболее удобен фотогониометрический метод. Определение огранения и кристаллографических констант Осуществляется на фотогномонических проекциях. Для решения всех задач в гномонической проекции разработаны расчетные методы. Они устраняют иловые ограничения, свойственные графическому представлению этой проекции. Габитус кристалла, выражаемый отношением площадей его граней, может измеряться путем фотометрирования рефлексов от граней па фотограммах или на гониометре известными фотоэлектрическими методами. Перспективным представляется автоматическое фотометрирование рефлексов с частичным использованием аппаратуры для рентгеноструктурных исследований или на микроденситометрах. Микроскопические неровности на поверхности кристалла вызывают дифракционное рассеяние отраженного света. Исследование дифрагированного излучения позволяет в ряде случаев определять не только геометрию неровностей, но и их размеры. Для кристаллографов, минералогов, кристаллофизикой, занимающихся изучением, выращиванием и использованием кристаллов
В учебном пособии кратко изложены основы кристаллографии и минералогии, методы обогащения полезных ископаемых. Предназначено для студентов высших учебных заведений, обучающихся по направлению подготовки «Металлургия». Может быть полезно инженерамобогатителям, горнякам, геологам и технологам.